日本岩崎IWATSU 半导体曲线图示仪 IGBT测试系统CS-3000系列 CS-3100 CS-3200 CS-3300

日本岩崎IWATSU 半导体曲线图示仪 IGBT测试系统CS-3000系列 CS-3100 CS-3200 CS-3300

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一、产品简介
IWATSU岩崎（岩通计测） CS-3000大功率晶体管特性图示仪，分为CS-3100/3200/3300,较大峰值电压：3000V，较大峰值电流：1000 A，支持漏电流（LEAKAGE）测试模式（光标分辨率：1 pA），测量IGBT、MOSFET\VDMOS、三极管等功率半导体的耐压、漏电流、导通电阻、输出曲线等参数, IWATSU岩崎（岩通计测） CS-3000大功率晶体管特性图示仪，分为CS-3100/3200/3300,较大峰值电压：3000V，较大峰值电流：1000 A，支持漏电流（LEAKAGE）测试模式（光标分辨率：1 pA），测量IGBT、MOSFET\VDMOS、三极管等功率半导体的耐压、漏电流、导通电阻、输出曲线等参数


二、产品特点及详细参数
半导体特性曲线图示仪 CS-3000系列 (符合 UL 规格)规格


项目 CS-3100 CS-3200 CS-3300 
集电极电源 
  模式 高电压 AC、±全波整流、± DC、±LEAKAGE 
大电流 - 脉冲 
  较大峰值功率 120 mW、1.2 W、12 W、120 W、390 W
*可以选择390 W（不含3000 V范围下的较大峰值电压设置）。
 
- 大电流模式（400 W、4 kW） 大电流模式（400 W、4 kW、10 kW） 
  高电压模式 较大峰值电流
（较大峰值脉冲电流） 较大峰值电压 
75 mA (150 mA) 3000 V（2500 V，AC） 
750 mA (1.5 A) 300 V 
7.5 A (15 A) 30 V 
 
 
 
  环路校正 测试台的集电极引脚与接地之间的杂散电容由高电压模式下的硬件提供补偿，还可提供数字补偿。 
  大电流模式（脉冲） - 较大峰值电流 较大峰值电压 
400 A 40 V 
40 A 40 V 
 
 
 较大峰值电流 较大峰值电压 
1000 A 40 V 
400 A 40 V 
40 A 40 V 
 
 
 
  脉冲宽度/测量点 - 脉冲宽度可在50 - 400 μs范围内变化。
可以*测量点（分辨率为10 μs/步进）。 
  数据点上限 每次跟踪可以*20 - 1000个点。 
阶梯信号发生器 
  电流模式 幅度范围：50 nA - 200 mA，共21个范围，步进为1-2-5
较大电流：±2A/偏移：步进幅度设置的±10倍 
  电压模式 幅度范围：50 mV - 2 V，共6个范围，步进为1-2-5 
较大电压：±40V/偏移：步进幅度设置的±10倍 
  步进率 梯形波：50 Hz或60 Hz的2倍
（AC模式下为50 Hz或60 Hz） 梯形波：50 Hz或60 Hz的2倍（AC模式下为50 Hz或60 Hz）
脉冲：脉冲变化范围为80ms - 1000 ms。
（较低频率受较大峰值功耗设置限制。） 
  脉冲步进 脉冲宽度可在50μs - 400 μs范围内变化（分辨率为10μs）。 
  步进数 0 - 20步 
AUX输出 
  范围 关闭，-40V - +40 V，按100mV分辨率变化 
垂直轴 
  集电极电流 范围 高电压模式：1 μA/div - 2 A/div，共20个范围，步进为1-2-5。 
- 高电流模式：100 mA/div - 50 A/div，共9个范围，步进为1-2-5。 高电流模式：100 mA/div - 100 A/div，共10个范围，步进为1-2-5。
 
精度 2%读数 + 0.05 × VERT/div设置值或更低（下面的内部环路校正错误必须加至左边的公式中。）
3 kV范围：6 μA、300 V 范围：1 μA, 30 V 范围：0.5 μA（仅针对各电压范围面积的10%或以上。） 
  发射较电流（泄漏） 范围 1 nA/div - 2 mA/div，共20个范围，步进为1-2-5 
精度 2%读数+ 0.05 × VERT/div设置值 + 1 nA 或更低 
水平轴 
  集电极电压 范围 高电压模式：50 mV/div - 500 V/div，共13个范围，步进为1-2-5 
- 高电流模式：50 mV/div - 5 V/div，共7个范围，切换步进为1-2-5 
精度 2%读数 + 0.05 × HORIZ/div 设置值或更高 
  基较/发射较电压 范围 50 mV/div - 5 V/div，共7个范围，步进为1-2-5 
精度 2%读数 + 0.05 × HORIZ/div 设置值或更高 
其他 
  监视器 8.4英寸彩色TFT液晶屏（SVGA 800 x 600像素） 
  数据保存/读取 内置：存储器（设置：256，REF波形： 4）
外置：移动存储器（连接至USB端口）
（设置、波形保存/再调用、屏幕硬拷贝） 
  USB 1个端口(USB1.1) 
  远程控制 通过局域网进行远程控制：1个端口(100BASE-TX) 
  电源/功耗 电源输入范围：100 - 240 V AC，
50/60 Hz 功耗：500 VA 
  配件 CS-301（S型测试台）、
CS-500（测试适配器）、
操作手册、
电源线 CS-302（M型测试台）、
CS-500（测试适配器）、
线束、
操作手册、
电源线 
机械部分 
  尺寸(mm) 424 (长) x 555.2 (宽) x 221 (H)（不含外部凸出部分） 424 (长) x 555.2 (宽) x 354.5 (H) 
（不含外部凸出部分） 
  重量 约30 kg（不含选配件） 约45 kg（不含选配件） 
  环境条件 工作温度：0 - +40 °C、
保证性能温度：+10 - +35 ℃ 
 
较大峰值电压：3000 V（高电压模式，适合所有型号）  
 较大峰值电流：1000 A（CS-3300高电流模式） 
 所有型号均支持漏电流（LEAKAGE）测试模式（光标分辨率：1 pA） 
 USB接口（保存屏幕图像和设置条件） 
 LAN接口（远程控制） 
 
 


产品系列



  产品名称 型号 备注 
主机 半导体特性曲线图示仪 CS-3100 3000V /无高电流模式- CS-301 / CS-500 
半导体特性曲线图示仪 CS-3200 3000V / 400A（高电流模式）- CS-302 / CS-500 
半导体特性曲线图示仪 CS-3300 3000V / 1000A（高电流模式）- CS-302 / CS-500 
测试台 S型测试台 CS-301 CS-3100标配 
M型测试台 CS-302 CS-3200 / CS-3300标配 
测试适配器 测试适配器 CS-500 主控装置附送1个测试适配器 
TO型测试适配器 CS-501 适用于TO型封装（3个引脚）的插口 
鳄鱼夹 小型鳄鱼夹（红色） x 10 CS-001 M型测试台选件：CS-302 
小型鳄鱼夹（黑色） x 10 CS-002 M型测试台选件：CS-302 
软件选件 半导体参数搜索 CS-800 该软件选件需与CS-3000系列配合安装 
半导体参数测量 CS-810 主控装置中装有CS-800时，该选项可以在PC（可选）上使用。 
 
 



用户友好的测量屏幕



  
图形配置选择 晶体管I-V特性示例（Trace模式） 

 
高电流脉冲模式（波模式）下的Vbe和Ic波形 



支持较大峰值电压为3000 V，较大峰值电流为1000 A 
  


  显示屏
 
 8.4英寸亮丽屏可以显示详细的波形情况。采用大尺寸屏幕，可以显示菜单和参数而不影响波形网格。 
  
 连接性 
 CS-3000系列前面板上配有USB端口，方便生成报告。按下复制（Copy）按钮即可将屏幕截图保存到USB设备。
 
  
 读出显示屏 
 读出显示屏采用不同颜色代表不同功能，操作设置一目了然。 
  
 断路器 
 前面板上分别提供高电压（所有型号）和高电流（CS-3200/3300）断路器。 
  
 菜单操作 
 使用功能旋钮和功能键来操作菜单。 
  
 复制(COPY)按钮 
  
 配置(CONFIGURATION)按钮 
 用于显示连接和信号应用状态。 
  
 阶梯发生器 
 使用该**旋钮可以设置步进和偏移。 
  
 查看/脉冲(VIEW/PULSE)按钮 
 用于切换跟踪(TRACE)与波形(WAVE)视图。
在波形视图下，屏蔽显示应用电压和电流的时间轴波形，常规曲线跟踪器无法观察到这种波形。 
  
 垂直(VERTICAL)和水平(HORIZONTAL)旋钮 
 这些**旋钮安装在易于操作的地方。 
  
 变量(VARIABLE)旋钮 
 用于调节集电极电源的输出电压。
采用耐用型旋钮适合频繁使用。